顯(xian)微(wei)鏡(jing)法(fa)清(qing)(qing)潔(jie)(jie)度(du)(du)(du)測(ce)試(shi)與掃(sao)描(miao)式清(qing)(qing)潔(jie)(jie)度(du)(du)(du)是顆粒物清(qing)(qing)潔(jie)(jie)度(du)(du)(du)測(ce)試(shi)兩(liang)種主要(yao)的(de)測(ce)試(shi)方法(fa)，關于兩(liang)種測(ce)試(shi)手段(duan)的(de)爭論目前(qian)還在繼續(xu)，本文(wen)主要(yao)簡單介紹顯(xian)微(wei)鏡(jing)法(fa)清(qing)(qing)潔(jie)(jie)度(du)(du)(du)測(ce)試(shi)與掃(sao)描(miao)式清(qing)(qing)潔(jie)(jie)度(du)(du)(du)測(ce)試(shi)對比(bi)

傳統顯微鏡式顆粒清潔度(du)儀(yi)是通過在濾膜上畫格(ge)，逐(zhu)格(ge)局部放大(da)顆粒，然后用軟(ruan)件(jian)將局部圖(tu)拼接成大(da)圖(tu)。據某發動(dong)機公司反映，顯微鏡式測(ce)(ce)試每次需(xu)花費20分鐘至40分鐘(不計前處(chu)理)，難以應付普通的(de)測(ce)(ce)試量(liang)(一天(tian)10個樣品(pin))，經常要(yao)加班。 而且其配置(zhi)的(de)軟(ruan)件(jian)不可根據客戶(hu)的(de)測(ce)(ce)試標(biao)準不同(tong)進行不同(tong)的(de)尺寸分級。

顯微鏡式(shi)顆(ke)粒(li)清潔度儀的(de)微距需定(ding)期上門(men)或發回供應商處校(xiao)(xiao)準(zhun)(多數為一年校(xiao)(xiao)準(zhun)一次)，否則，當微距出現小至微米(mi)級的(de)偏(pian)差時(shi)，就(jiu)會將每格邊緣的(de)顆(ke)粒(li)或較大顆(ke)粒(li)裂解成(cheng)(cheng)多個顆(ke)粒(li)，造成(cheng)(cheng)結(jie)果(guo)不準(zhun)確。

顯微鏡掃(sao)描時造成的顆粒物裂解現象

上圖表明，用高倍數(shu)顯微(wei)鏡掃描(miao)時(shi)，每格只有2微(wei)米，所以(yi)顯微(wei)鏡的移(yi)動(dong)軸承即使用0.1微(wei)米的誤差，也(ye)會(hui)造成顆(ke)粒物裂解(jie)。

同時(shi)(shi)(shi)，人為(wei)調(diao)焦(jiao)也是影(ying)響結(jie)果準確(que)性(xing)的(de)一個(ge)主要因(yin)素。某(mou)發動機公(gong)司(si)的(de)反饋(kui)結(jie)果是，當焦(jiao)距(ju)調(diao)遠時(shi)(shi)(shi)，可見(jian)顆粒(li)數(shu)(shu)量會(hui)減少，當焦(jiao)距(ju)調(diao)近時(shi)(shi)(shi)，顆粒(li)數(shu)(shu)量會(hui)增加，因(yin)此，其結(jie)果的(de)客觀(guan)性(xing)值得(de)懷疑。

MicroQuick 采用高精度(du)(du)掃描儀整體掃描濾(lv)膜法(fa)打破了(le)以(yi)往的顯微(wei)鏡(jing)式顆粒清(qing)(qing)潔度(du)(du)儀需在濾(lv)膜上(shang)畫(hua)格逐一觀察(cha)的方(fang)法(fa)。其(qi)操作簡(jian)單(dan)快速，2.5分鐘(zhong)即完成掃描并(bing)分析，自(zi)動(dong)的操作方(fang)式對(dui)操作人員要求低，無需專業(ye)人員進行類似顯微(wei)鏡(jing)法(fa)的調(diao)焦、調(diao)光等動(dong)作。，同時(shi)，德國RJL公司根據其(qi)豐富的檢測經(jing)驗設(she)計出(chu)的專業(ye)分析軟件，依(yi)靠(kao)高精度(du)(du)掃描儀的配合，快速輸出(chu)的科學可靠(kao)的顆粒清(qing)(qing)潔度(du)(du)數(shu)據并(bing)全自(zi)動(dong)生成審(shen)計報告。此外，Micro Quick顆粒物清(qing)(qing)潔度(du)(du)儀可由(you)客戶自(zi)行檢查(cha)和校準，無需服務人員上(shang)門，省錢又省心。