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三廂式溫度沖擊試驗箱

描述:TST200W-55三廂式溫度沖(chong)擊試(shi)驗箱擁有200升的測試(shi)容(rong)量以(yi)及-55℃~+150℃的沖(chong)擊范圍

更新時間:2019-05-24
產品型號:
廠商性質:代理商
詳情介紹

概述

三廂式溫度沖擊試驗箱能(neng)模(mo)擬高(gao)溫(wen)與低(di)溫(wen)之(zhi)間(jian)的(de)(de)瞬(shun)間(jian)變化(hua)環(huan)境,用于確定裝備在經(jing)受周圍大氣溫(wen)度的(de)(de)急劇變化(hua)時(shi),是否產生(sheng)物理損壞或性(xing)能(neng)下降。是航(hang)空、汽車、家電(dian)、科研等(deng)領域*的(de)(de)測試設備,考(kao)核(he)和確定檢測儀器、機械(xie)、電(dian)工、電(dian)子產品整機及(ji)零部(bu)件等(deng)在進(jin)行(xing)高(gao)低(di)溫(wen)沖(chong)擊試驗后的(de)(de)參數及(ji)性(xing)能(neng)。

滿足試驗標準

GB/T2423.1﹣2001 試驗A:低溫試驗方法

GB/T2423.2﹣2001 試驗(yan)B:高溫試驗(yan)方法

GB/T2423.22﹣2001 試驗(yan)N:溫度(du)變化試驗(yan)方法

GJB150.3A-2009 高溫試驗

GJB150.4A-2009 低溫試驗

GJB150.5A-2009 溫度沖擊試驗

適用領域

TST200W-55溫度沖擊(ji)試驗(yan)箱無法(fa)用于(yu)以下情況的測試:

易(yi)燃、易(yi)爆、易(yi)揮發性物質試樣(yang)的試驗或儲存

腐蝕(shi)性物質試樣的試驗或儲(chu)存(cun)

生(sheng)物(wu)試(shi)樣(yang)的(de)試(shi)驗或儲存

強電磁(ci)發射源試樣的試驗或儲(chu)存(cun)

通訊功能

TST200W-55三廂式溫度沖擊試驗箱有RJ-45接口(kou),具有本(ben)地和(he)遠程(cheng)通(tong)訊功(gong)能,安裝好本(ben)公司(si)提供的軟(ruan)件(jian)后(hou),在控(kong)制軟(ruan)件(jian)中(zhong)可(ke)以(yi)對設備進行遠程(cheng)監控(kong),可(ke)以(yi)對設備進行編程(cheng)、開機和(he)停機等操作,通(tong)過該(gai)軟(ruan)件(jian)可(ke)以(yi)記錄試驗(yan)過程(cheng)中(zhong)的數(shu)(shu)據和(he)曲線(xian)(xian),并可(ke)以(yi)根據需(xu)要打印該(gai)數(shu)(shu)據和(he)曲線(xian)(xian)。

曲線記錄功能

曲線(xian)實時存儲,可顯(xian)示(shi)當(dang)前曲線(xian),歷史曲線(xian)可查詢(xun)顯(xian)示(shi),具備曲線(xian)時標功能,用(yong)U盤下載歷史數(shu)據(ju),可在軟(ruan)件(jian)還(huan)原曲線(xian)并(bing)且生產Excel報表。

外接數據存儲功能

TST200W-55溫(wen)度沖擊試驗箱擁有USB接口,配優盤(容量不(bu)小于4G,不(bu)保修)一個,PC機(ji)軟件(jian)光盤一張(zhang)。

通過(guo)PC機軟件編制試驗程序并導入控制器(qi)中(zhong);也可將控制器(qi)內的程序導入PC機進(jin)行分析和管理。

TST200W-55溫度沖(chong)擊試(shi)驗箱可將(jiang)存儲(chu)在控制器(qi)內(nei)記錄的試(shi)驗曲(qu)線(xian)數(shu)據(ju)轉存到優盤上(shang)。通過PC機軟(ruan)件(jian)直接顯示和(he)打印(yin)試(shi)驗數(shu)據(ju)/曲(qu)線(xian);或(huo)將(jiang)記錄數(shu)據(ju)轉換(huan)為可由(you)Microsoft Office讀(du)取的Access數(shu)據(ju)文(wen)件(jian)。

附屬功能

故障報警及原因

斷電保護功能

日歷定(ding)時功能(neng)(自動啟動及自動停止運行)

自診斷功能

使用環境要求

溫度:5℃~35℃

相對濕(shi)度:≤85%

氣(qi)壓:86kPa~106kPa

安裝環境要求

地面平整(zheng),設備安裝位(wei)置的傾斜度不(bu)超過1°

地面承重能力不(bu)小于600kg/m2

場地通風良好

設備周圍無強烈振動

設備周圍無強電磁(ci)場影(ying)響(xiang)

設備周圍無易燃、易爆(bao)、腐蝕性(xing)物質(zhi)和(he)粉塵

設(she)備周圍留有適當(dang)的使用及維(wei)護空間:

TST200W-55溫度沖擊試驗箱規格參數

內容積(升)

200

工(gong)作室內(nei)尺寸(mm)

W650 mm×H460 mm×D670 mm

設備外尺寸(mm)

W1710 mm×H1850 mm×D1870 mm

重量(kg)

1500

測試環境條件

環境溫度為+25℃、相對濕(shi)度≤85%、大(da)氣壓力(li):86~106kpa

循(xun)環(huan)冷(leng)卻水溫(wen)≤+30℃(不(bu)結冰)、循(xun)環(huan)冷(leng)卻水供水壓(ya)力(li)為0.3 MPa~0.45MPa

測試方法

GB/T 5170.2-2008

試驗方式

三廂結構,氣動風門(men)切換2溫區(qu)或3溫區(qu)

預熱上限溫度

+200℃

預冷下限溫度

﹣75℃

高溫沖擊范圍

+60℃~ +150℃

低溫沖擊范圍

-10℃~﹣55℃

升溫速率

+60℃→+200℃ ≤20min

降溫速率

+20℃→﹣70℃≤80min

溫度偏差

±2.0℃(空載)

溫度波動度

≤±0.5℃(按GB/T 5170.2-1996)(空載)

溫度恢復時間

≤5min    (+150℃:30分(fen)鐘(zhong) ← →環境(jing)溫度:5分(fen)鐘(zhong) ← → -55℃:30分(fen)鐘(zhong))

溫度恢復條件

試(shi)樣:塑料封裝集成電路(均布),傳感器(qi)位(wei)置:試(shi)樣的上風側

試樣重量:10KG

噪聲

A聲級≤75dB(A) (大門前1m離地面高(gao)度1.2m處,自由空間中)

 

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