描述:涂(tu)魔師(shi)濕膜測厚系(xi)統可噴(pen)涂(tu)工序后(hou),立(li)即測量(liang)(liang)濕膜的厚度(du)(du)、熱(re)阻(zu)性(xing)以及熱(re)擴散性(xing)。可集(ji)成在生產線(xian)上進行(xing)工藝控制。Coatmaster濕膜測試技術(shu)采用的是熱(re)光學技術(shu),可在產線(xian)前端(duan)噴(pen)涂(tu)工藝中即時測量(liang)(liang)涂(tu)層(ceng)厚度(du)(du),可在100厘米的距離內進行(xing)非接觸式涂(tu)層(ceng)厚度(du)(du)測量(liang)(liang)。
在生產線過程(cheng)中,產品(pin)經過噴涂(tu)(tu)(tu)工藝(yi)后(hou),涂(tu)(tu)(tu)層的(de)厚度(du)直接關系到后(hou)續(xu)工藝(yi)能否(fou)正常進行以(yi)及盡可能終成品(pin)是否(fou)合格。因(yin)此在噴涂(tu)(tu)(tu)后(hou)對(dui)于涂(tu)(tu)(tu)層厚度(du)的(de)測量(liang)和(he)監控是要的(de)。
傳(chuan)統測(ce)厚技(ji)術需要面臨的(de)兩個(ge)問題,測(ce)量涂(tu)(tu)層厚度需要等(deng)待(dai)(dai)涂(tu)(tu)層*干(gan)(gan)透(tou)(tou)之后才能進(jin)行檢測(ce),等(deng)待(dai)(dai)涂(tu)(tu)層*干(gan)(gan)透(tou)(tou)需要經(jing)歷幾天的(de)時(shi)間(jian)。
其次(ci)測(ce)量涂層(ceng)厚(hou)度時需要與產品(pin)表面進行接(jie)觸(chu),測(ce)量過(guo)程中需要產品(pin)表面接(jie)觸(chu),容易破話涂層(ceng)表面。即便是測(ce)量過(guo)程發現了(le)問(wen)題也無(wu)法及時修正,從而(er)造成大(da)量的時間和物料(liao)消(xiao)耗。
涂魔師濕膜測厚系統技術(shu)采(cai)用的是熱光(guang)學技術(shu),可在產(chan)線(xian)前端噴涂工(gong)藝中即時測(ce)量(liang)涂層(ceng)厚(hou)(hou)度(du),可在100厘米的距離內進行非接觸式涂層(ceng)厚(hou)(hou)度(du)測(ce)量(liang)。
經過固化后用電感計測量并進行對比,涂魔師濕膜測厚系統可(ke)(ke)良好的(de)對(dui)應干膜數據,因(yin)此可(ke)(ke)用于指(zhi)導實際生(sheng)產(chan)。
由于涂魔(mo)師濕膜(mo) 測(ce)厚系(xi)統(tong)(tong)系(xi)統(tong)(tong)采(cai)用的是非接觸式測(ce)試設(she)計,測(ce)量(liang)點十分小,因此可測(ce)曲面,內(nei)壁以及角落處;
涂魔師濕(shi)膜 測厚系(xi)(xi)統(tong)系(xi)(xi)統(tong)適用多(duo)種不同基材的測試(shi),包(bao)括:金屬,塑(su)料(liao),橡(xiang)膠,木材,碳纖(xian)維(CFRP), 玻璃等(deng)。對于涂料(liao)的顏色不敏感,不會因為涂料(liao)顏色而(er)影響測試(shi)精(jing)度(du)。
生產過程中的(de)工(gong)件測量往往處于運(yun)動狀態,傳統的(de)接觸式測厚(hou)技術無(wu)(wu)法滿足(zu)動態測試的(de)要(yao)求(qiu)。涂魔師濕膜 測厚(hou)系統直接無(wu)(wu)損(sun)檢測過程中實現(xian)無(wu)(wu)間斷檢測!
利用光源對(dui)測試表(biao)(biao)面進行短暫加溫(wen),利用紅外傳感器對(dui)表(biao)(biao)面溫(wen)度進行非(fei)接(jie)觸測量記(ji)錄(lu),
涂(tu)層表面溫度的降(jiang)低(di)的動態變(bian)化過(guo)程(cheng)具(ju)有特(te)性,它受到涂(tu)層厚(hou)度以及基(ji)材材料(liao)的熱(re)特(te)性影響。涂(tu)層越薄(假定其熱(re)導性比(bi)基(ji)材低(di)),表面溫度降(jiang)得就越快(kuai)。
測(ce)(ce)量時涂(tu)(tu)(tu)魔師(shi)濕膜 測(ce)(ce)厚系統(tong)在線非接觸式測(ce)(ce)厚系統(tong)通過閃光燈會對所測(ce)(ce)的(de)涂(tu)(tu)(tu)層進(jin)(jin)行加溫。表面(mian)溫度隨著時間(jian)的(de)變(bian)化過程將提供涂(tu)(tu)(tu)層厚度的(de)有(you)關信息,通過采用(yong)先進(jin)(jin)創新的(de)算法可對測(ce)(ce)量數據進(jin)(jin)行評估。
除測量涂(tu)(tu)層(ceng)厚(hou)(hou)度之外,涂(tu)(tu)魔師濕(shi)膜 測厚(hou)(hou)系(xi)統(tong)非接觸式測厚(hou)(hou)系(xi)統(tong)還可以同時測量涂(tu)(tu)層(ceng)的(de)熱(re)(re)阻性,導熱(re)(re)性以及(ji)熱(re)(re)擴散性。
m1 | m2 | m3 | m4 | |
探頭重量 | 4.9kg | 4.9kg | 4.9kg | 4.9kg |
測量范圍 | 1-2000μm | 1-2000μm | 1-2000μm | 1-2000μm |
測量距離(li)(盡可能大(da)值(zhi))(ii) | 30 cm | 50 cm | 80 cm | 120 cm |
相對標準(zhun)偏差(cha) (i) | 3% | 1.5% | 0.7% | 0.3% |
燈(deng)的使用次數(iii) | 1 mio. | 2 mio. | 4 mio. | 8 mio. |
測量(liang)頻率 (iii) | 1 Hz (2Hz opt.) | 1 Hz (2Hz opt.) | 1 Hz (2Hz opt.) | 1 Hz (2Hz opt.) |
樣(yang)品的相對(dui)速度 (ii) | 120m/min | 120m/min | 120m/min | 120m/min |
允許角度 (ii) | ± 45° | ± 45° | ± 45° | ± 45° |
允許距離 (ii) | 5-30cm | 5-50cm | 5-80cm | 5-120cm |
探頭工作溫度 | 60°C | 60°C | 60°C | 60°C |
探(tan)頭環境(jing)溫度(放置風(feng)柜) | 5°C-35°C | 5°C-35°C | 5°C-35°C | 5°C-35°C |
相對濕度(不結露) | <80% | <80% | <80% | <80% |
探頭與風柜高度差 | 8m | 8m | 8m | 8m |
以太網接口 | Yes | Yes | Yes | Yes |
W-Lan接口 | Opt | Opt | Opt | Opt |
外部觸發接口 | Yes | Yes | Yes | Yes |