描(miao)述：涂(tu)魔師(shi)3D整體膜(mo)厚成像系統 非接(jie)觸涂(tu)層測(ce)厚儀憑借其(qi)光熱法（ATO）測(ce)量(liang)技術，實現非接(jie)觸式(shi)測(ce)量(liang)金屬、橡膠、塑(su)料等(deng)基材的涂(tu)層厚度(du)。與其(qi)它傳統測(ce)厚設備(bei)相比，它具有便(bian)攜使用、安全(quan)可靠、輕松測(ce)量(liang)外觀復雜(za)工件(jian)，無需嚴(yan)格控制測(ce)量(liang)角度(du)和距離等(deng)優勢。
在產品(pin)進入烤(kao)爐前測(ce)試濕膜(mo)，及時得出(chu)干(gan)膜(mo)厚度，在工藝早期(qi)能及時發現偏差并作出(chu)設備調整。采用ATO*的熱光學技術，無需接觸或破(po)壞產品(pin)表面涂(tu)層(ceng)，在允許(xu)變化角度和(he)工作距離內即可輕松(song)測(ce)量膜(mo)厚。在生產前期(qi)非接觸式測(ce)量未固化的涂(tu)層(ceng)直(zhi)接得出(chu)涂(tu)層(ceng)的干(gan)膜(mo)厚度，如粉末涂(tu)料(liao)、油(you)漆等。
涂魔師3D整體膜厚成像系統 非接觸涂層測厚儀基于*的(de)(de)熱(re)光學(xue)技(ji)術(ATO)和數字信號處(chu)理技(ji)術(DSP)，實(shi)現*的(de)(de)非接觸式(shi)(shi)涂層(ceng)無損測(ce)厚(hou)技(ji)術。該(gai)膜厚(hou)分析儀通過計算(suan)(suan)機控制(zhi)光源以脈沖方式(shi)(shi)加熱(re)待(dai)測(ce)涂層(ceng)，其中(zhong)內置(zhi)的(de)(de)高速(su)紅外探(tan)測(ce)器從遠(yuan)處(chu)記(ji)錄(lu)涂層(ceng)表面溫(wen)度(du)分布并生成溫(wen)度(du)衰減曲(qu)線。表面溫(wen)度(du)的(de)(de)衰減時間取決于涂層(ceng)厚(hou)度(du)及其導熱(re)性能。后利用專門研發的(de)(de)算(suan)(suan)法分析表面動態溫(wen)度(du)曲(qu)線計算(suan)(suan)測(ce)量(liang)待(dai)測(ce)的(de)(de)涂層(ceng)厚(hou)度(du)。
通過涂魔師3D整體膜厚成像系統 非接觸涂層測厚儀成像智慧檢測技術，輕松非接觸精準測量形狀復雜零部件的膜厚分布情況，測試點的數據與工件被測部份一一對應，實時監控膜厚真實情況。如下圖所(suo)示，由于輪轂(gu)(gu)特殊的幾何形狀(zhuang)，對粉末涂層的應用要求更高，采用涂魔師3D非(fei)接觸無損測厚儀測量輪轂(gu)(gu)涂層厚度，一秒測出多個輪轂的多層干膜涂層總厚，自動整體膜厚成像。
