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顆粒物清潔度分析解決方案

點擊次數:896更新時間:2015-09-06

顆粒清潔度歷史來源及測試目的

顆(ke)粒物清潔(jie)度測試(shi)zui早是由Robert Bosch公司在(zai)1995年提出,測試(shi)的(de)目的(de)保證其產(chan)(chan)品柴(chai)油共軌部件清洗干凈,防止產(chan)(chan)生顆(ke)粒物堵塞部件的(de)問(wen)題(ti)。但在(zai)1995年世界上并沒有第三方(fang)測試(shi)機構(gou)提供顆(ke)粒清潔(jie)度測試(shi)服務。

的顆粒(li)清潔(jie)度檢測機構——德國RJL公(gong)司在1997年創立,給Robert Bosch博(bo)世公(gong)司提(ti)供清潔(jie)度測試服務(wu)。此后,RJL公(gong)司一直是行(xing)業(ye)(ye)中的專(zhuan)業(ye)(ye),并(bing)參與制(zhi)定(ding)了(le)VDA-19,ISO16232標準(zhun)。

RJL根據長期的檢(jian)測經驗和調查發現(xian),目前顆粒(li)清潔度(du)檢(jian)測方(fang)面(mian)主要存在3方(fang)面(mian)問(wen)題:

一:濾膜選擇與前處理顆粒積聚、濾膜發黑的問題

1. 目前作為顆(ke)粒度檢測的濾(lv)膜材質(zhi)有很多(duo),如(ru)纖(xian)維素(su)膜、特氟(fu)龍(long)(long)膜、尼龍(long)(long)濾(lv)膜、網(wang)格濾(lv)膜等。其中(zhong)纖(xian)維素(su)膜和網(wang)格濾(lv)膜比較常用。

2.很(hen)多客戶反映在(zai)(zai)(zai)使用(yong)纖維素濾(lv)(lv)(lv)(lv)膜(mo)會出(chu)現濾(lv)(lv)(lv)(lv)膜(mo)發黑的(de)問題,導致(zhi)顆粒無(wu)法(fa)辨(bian)認(ren)。此問題是(shi)因為工件(jian)中(zhong)的(de)油(you)(you)脂在(zai)(zai)(zai)加(jia)工過(guo)程中(zhong)在(zai)(zai)(zai)熱作用(yong)下(xia)生產碳黑、焦油(you)(you)、樹脂而不溶于萃取液,過(guo)濾(lv)(lv)(lv)(lv)時滯(zhi)留在(zai)(zai)(zai)纖維素濾(lv)(lv)(lv)(lv)膜(mo)上(shang),所以使濾(lv)(lv)(lv)(lv)膜(mo)變黑變黃(huang)。在(zai)(zai)(zai)工件(jian)的(de)油(you)(you)脂較多的(de)情況下(xia),應使用(yong)網格濾(lv)(lv)(lv)(lv)膜(mo)。

 

纖維素濾膜與網格濾膜

選擇(ze)了網格(ge)濾膜的情況(kuang)下,有時會姓網格(ge)反(fan)光,需要注(zhu)意選擇(ze)有光濾片(pian)的清潔度儀,以(yi)避免把網格(ge)的反(fan)光誤判成金屬顆粒(li),降低樣品合格(ge)率。

3. 另外在制(zhi)作(zuo)(zuo)濾膜(mo)時,會(hui)發生(sheng)顆粒積聚(ju)、分散(san)不均(jun)勻(yun)的問題(ti)。這是(shi)因為(wei)在操作(zuo)(zuo)時,噴壺噴嘴直接對濾膜(mo)沖刷造成(cheng)。正(zheng)確的方法應(ying)該是(shi)使濾液沿著管(guan)壁(bi)緩(huan)緩(huan)流(liu)過濾膜(mo)(如下圖(tu))。


濾膜制作流程


正常濾膜與差點濾膜對比

二:測試耗時過長與測量精度易受人為操作影響

1.傳統顯微鏡式顆粒清潔度儀是通過在濾膜上畫格,逐格局部放大顆粒,然后用軟件將局部圖拼接成大圖。據某發動機公司反映,顯微鏡式測試每次需花費20分鐘至40分鐘(不計前處理),難以應付普通的測試量(一天10個樣品),經常要加班。 而且其配置的軟件不可根據客戶的測試標準不同進行不同的尺寸分級。

傳統顯微鏡式顆(ke)粒清潔度儀的掃描方式

2. 顯(xian)微鏡式顆粒(li)清(qing)潔度(du)儀的微距需定期上門或發回(hui)供應商處校準(zhun)(多(duo)數為(wei)一(yi)年校準(zhun)一(yi)次(ci)),否則,當微距出現小至微米級的偏差時,就會將每格邊(bian)緣的顆粒(li)或較大顆粒(li)裂解成多(duo)個顆粒(li),造成結果不準(zhun)確(如下圖(tu)所示)。

上圖表明,用高倍數顯微(wei)鏡(jing)掃描時(shi),每格只(zhi)有2微(wei)米,所以(yi)顯微(wei)鏡(jing)的移(yi)動軸承(cheng)即(ji)使用0.1微(wei)米的誤(wu)差,也會造成顆粒物裂解。

3.同時,人為調焦也是影響結(jie)果(guo)準確性的一個(ge)主(zhu)要因素。某發動機公司(si)的反饋結(jie)果(guo)是,當焦距調遠(yuan)時,可見(jian)顆粒(li)數量會(hui)減少,當焦距調近時,顆粒(li)數量會(hui)增(zeng)加,因此(ci),其結(jie)果(guo)的客(ke)觀性值得(de)懷疑。

解決方案是(shi)使用(yong)掃(sao)(sao)描(miao)式顆粒清(qing)潔度儀,通過高精度掃(sao)(sao)描(miao)儀一次掃(sao)(sao)描(miao)成(cheng)像(xiang),2.5分(fen)鐘即(ji)可完成(cheng)掃(sao)(sao)描(miao),0.5-1分(fen)鐘后就得出測(ce)試結果與(yu)報(bao)告。整個(ge)測(ce)試時間在3分(fen)鐘左右(you)。全(quan)過程為(wei)儀器自動操作,*避開人為(wei)操作的影響。

三.運輸包裝問題。

很多客戶反映:零(ling)件(jian)(jian)(jian)在出貨(huo)時(shi)的(de)顆(ke)(ke)粒度檢測(ce)是(shi)合格(ge)的(de),但是(shi)包裝(zhuang)好發(fa)貨(huo)到下游時(shi),在下游客戶處再(zai)作顆(ke)(ke)粒度檢測(ce)卻是(shi)不合格(ge)的(de)。造成這個問題(ti)的(de)原因(yin)是(shi)零(ling)件(jian)(jian)(jian)在打(da)包出貨(huo)時(shi)零(ling)件(jian)(jian)(jian)之間(jian)的(de)孔隙比較稀松,隨后運輸過程中的(de)顛簸會使零(ling)件(jian)(jian)(jian)之間(jian)相互磕碰,造成新的(de)顆(ke)(ke)粒產生。由此(ci)以來,再(zai)加(jia)上包裝(zhuang)掉落(luo)的(de)碎屑,零(ling)件(jian)(jian)(jian)到客戶處的(de)時(shi)候(hou),顆(ke)(ke)粒清(qing)潔度肯定容易(yi)超出要(yao)求(qiu)范圍。因(yin)此(ci),小零(ling)件(jian)(jian)(jian)在發(fa)貨(huo)前建議(yi)采用(yong)真空打(da)包,避免零(ling)件(jian)(jian)(jian)磕碰的(de)現象發(fa)生。

目前,利用掃(sao)描(miao)法原理的(de)顆粒(li)(li)物清(qing)潔度(du)儀(yi)已(yi)是清(qing)潔度(du)測(ce)試(shi)的(de)主流趨勢,克服(fu)了(le)顯(xian)微鏡式顆粒(li)(li)清(qing)潔度(du)儀(yi)測(ce)量單個樣品(pin)耗(hao)時長、數據易受校(xiao)準(zhun)情況(kuang)和人(ren)為因素的(de)影響,報告(gao)無法根據客戶要求分級等弊端。同時掃(sao)描(miao)儀(yi)法顆粒(li)(li)清(qing)潔度(du)儀(yi)的(de)成(cheng)本相對較低,是符(fu)合VDA-19標準(zhun)的(de)的(de)測(ce)試(shi)方法。如果了(le)解德國RJL公司的(de)掃(sao)描(miao)法顆粒(li)(li)物清(qing)潔度(du)儀(yi)及清(qing)潔度(du)測(ce)試(shi)服(fu)務(wu),請(qing)瀏覽(lan)RJL或致電。

高精度(du)顆(ke)粒物(wu)清潔度(du)檢測儀

MicroQuick采用高精(jing)度(du)(du)掃(sao)描儀(yi)整體(ti)掃(sao)描濾膜(mo)法打破了以往(wang)的(de)顯(xian)微鏡式顆(ke)粒清(qing)潔度(du)(du)儀(yi)需(xu)在(zai)濾膜(mo)上畫格逐一觀察的(de)方法。其操(cao)作(zuo)簡單快(kuai)速(su),2.5分鐘即完成(cheng)掃(sao)描并分析,自(zi)動的(de)操(cao)作(zuo)方式對操(cao)作(zuo)人(ren)員(yuan)要求低(di),無需(xu)專(zhuan)業(ye)人(ren)員(yuan)進行(xing)(xing)類似顯(xian)微鏡法的(de)調焦、調光等動作(zuo)。同時,RJL根據其豐富的(de)檢(jian)測經驗設計(ji)出的(de)專(zhuan)業(ye)分析軟件,依靠高精(jing)度(du)(du)掃(sao)描儀(yi)的(de)配(pei)合(he),快(kuai)速(su)輸出的(de)科學可(ke)靠的(de)顆(ke)粒清(qing)潔度(du)(du)數(shu)據并全(quan)自(zi)動生(sheng)成(cheng)審計(ji)報(bao)告。此外,Micro Quick可(ke)由客戶自(zi)行(xing)(xing)檢(jian)查和校準,無需(xu)服務人(ren)員(yuan)上門,省(sheng)錢(qian)又省(sheng)心。

注:資料中的方法均由德國RJL公司提供。佛山市翁開爾有限公司與RJL公司合作,可提供全套的顆粒清潔度實驗室的前處理、稱重、顆粒度分級儀器、顆粒材料分析與解決方案。

若需更多顆粒清潔度檢測前處理的信息,請致電【】。

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